Fischer Dualscope FMP40菲希爾測(cè)厚儀代理

Fischer Dualscope FMP40菲希爾測(cè)厚儀代理

fischer FMP30-40系列涂層測(cè)厚儀

新一代便攜式儀器菲希爾FMP30-40比基本型號(hào)菲希爾FMP10-20更加通用。這些儀器集成了額外的功能，菲希爾測(cè)厚儀例如更大的存儲(chǔ)容量、大量應(yīng)用程序的存儲(chǔ)以及廣泛的統(tǒng)計(jì)和圖形評(píng)估?？梢栽趹?yīng)用程序中輸入公差限值，然后對(duì)生產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。當(dāng)菲希爾測(cè)厚儀進(jìn)行大量測(cè)量時(shí)，默認(rèn)模式可以轉(zhuǎn)換為矩陣模式。這些只是下面描述的幾個(gè)特征。

菲希爾測(cè)厚儀根據(jù)您的測(cè)量應(yīng)用，您可以選擇磁感應(yīng)法(DELTASCOPE FMP30)、渦流法(ISOSCOPE FMP30)或磁感應(yīng)和渦流兩用儀器(DUALSCOPE FMP30)。配有費(fèi)希爾的各種插入式探頭，可以滿足大多數(shù)測(cè)量應(yīng)用。

DELTASCOPE FMP30菲希爾測(cè)厚儀代理用于測(cè)量非磁性涂層的厚度，如鐵基底上的鉻、銅、鋅、油漆、搪瓷或塑料。

ISOSCOPE FMP30菲希爾測(cè)厚儀代理用于測(cè)量非磁性金屬基材上油漆或塑料的厚度；用于測(cè)量鋁基板上陽(yáng)極氧化層的厚度，也用于測(cè)量非導(dǎo)電基板上導(dǎo)電層的厚度。

DUALSCOPE FMP40菲希爾測(cè)厚儀代理采用磁感應(yīng)和渦流兩種方式，具有自動(dòng)識(shí)別基板的功能。這種通用儀器可以測(cè)量鐵/鋼、非磁性金屬基底和非導(dǎo)電基底上許多涂層的厚度。

菲希爾代理FMP30-40系列的特點(diǎn):

(比FMP10-20功能更多)

fischer代理自動(dòng)底物識(shí)別(FMP40)

fischer代理可以存儲(chǔ)20，000個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)

可以存儲(chǔ)100個(gè)應(yīng)用程序。

可以存儲(chǔ)4000個(gè)數(shù)據(jù)集。

帶有日期和時(shí)間戳的數(shù)據(jù)組

分組和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)

測(cè)量數(shù)據(jù)直方圖顯示

您可以輸入過(guò)程公差限制，并計(jì)算相應(yīng)的過(guò)程能力指數(shù)Cp和Cpk。

當(dāng)超過(guò)公差時(shí)，會(huì)發(fā)出聲音和視覺警告信號(hào)。

在連續(xù)測(cè)量模式下，測(cè)量數(shù)據(jù)可以顯示在上限和下限。

外部鍵觸發(fā)測(cè)量模式，可用于測(cè)量小尺寸圓管的內(nèi)壁。

可在未知涂層上校準(zhǔn)(僅適用于磁感應(yīng)法)

使用矩陣測(cè)量模式可以進(jìn)行大量測(cè)量。

平均值:只存儲(chǔ)幾個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值。

面積測(cè)量:僅顯示讀數(shù)，在存儲(chǔ)和平均之前，探頭被抬起。

探頭可以放在工件上進(jìn)行連續(xù)測(cè)量。

奇異值控制可以自動(dòng)消除錯(cuò)誤的測(cè)量值。

您可以修改存儲(chǔ)的測(cè)量值。

應(yīng)用連接方式:校準(zhǔn)信息可以共享。

應(yīng)用程序可以由MP-Name軟件命名。

Usb接口可以連接到打印機(jī)

使用電池或外部電源。

DUALSCOPE MPO涂層測(cè)厚儀符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956和GB/T4957，可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。

菲希爾MPO涂層測(cè)厚儀采用雙功能內(nèi)置式探頭，更換探頭，可自動(dòng)識(shí)別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應(yīng)的測(cè)量方式進(jìn)行測(cè)量。

菲希爾符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的雙顯示屏結(jié)構(gòu)，可以在測(cè)量位置讀取測(cè)量數(shù)據(jù)。

采用手機(jī)菜單方式選擇功能。

儀器可設(shè)定上下限，測(cè)量結(jié)果出或符合上下限數(shù)值時(shí)，儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示。

DUALSCOPE MPO菲希爾涂層測(cè)厚儀通常不必校正便可進(jìn)行測(cè)量。