Fischerscope XDLM232 x射線測厚儀

Fischerscope XDLM232 x射線測厚儀

菲希爾x熒光分析儀FISCHERSCOPE-X-RAYXDLM x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀：
菲希爾x熒光分析儀FISCHERSCOPE-X-RAYXDLM儀器是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。 它們構成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開發(fā)的下一步。 像它們的前輩一樣，它們特別適合于無損厚度測量和薄涂層分析以及批量生產的零件和印制板上的自動測量。有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺，當打開防護罩時，該平臺會自動移到裝載位置。Fischerscope XDLM232

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據(jù)不同的預期用途，有不同的版本。
XDLM 231型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統(tǒng)。
XDLM 232型配有可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統(tǒng)。
XDLM 237型則配備了馬達驅動的 X/Y 工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。